Известно, что в современных энергоэффективных разрядных источниках света (ИС) применение сложных оксидов бария (вольфраматов, молибдатов, скандатов) в качестве эмиссионных покрытий катодов ограничено недостаточной стойкостью этих соединений к воздействию высоких температур. Поэтому в ИС высокого давления с рабочей температурой боковой поверхности катода 1400-1900 К (лампы типа ДРЛ) для покрытия катодов используются оксиды РЗЭ иттриевой подгруппы и , чрезвычайно устойчивые к термической эрозии, но с гораздо более низкой эмиссионной активностью, по сравнению со сложными оксидами Ba. Оксид другого щелочноземельного металла - SrO, менее летуч, чем BaO, и обладает высокими эмиссионными свойствами. Исходя из вышеизложенного, можно предположить, что в двойных оксидах
эмиссионная активность будет сочетаться с устойчивостью к температурному воздействию за счет присутствия в составе соединений соответственно SrO и
. Целью настоящей работы является оценка стабильности эмиттеров
(где
) при эксплуатации в ИС высокого и низкого давления.
В [1] показано, что рассматриваемые сложные оксиды обладают высокими температурами конгруэнтного плавления (2100-2400 °С) и существуют в широком температурном интервале, не претерпевая распада в твердой фазе. В то же время, в процессе работы ИС из катодных покрытий испаряется газообразный оксид стронция по реакциям:
(1)
(2)
(3)
(4)
Протекание реакций испарения снижает эмиссионные свойства материала, поэтому стойкость эмиттера к термической эрозии в процессе эксплуатации является одним из основных требований к нему. В реакциях (1) - (4) стойкость соединений определяется величиной приведенного парциального давления газообразного оксида стронция (
), выделяющегося из эмиттера при рабочей температуре катода ИС.
Константы равновесия реакций испарения (1) - (4), выраженные через давления, равны:
(5)
Т.к. эксплуатация эмиттера в лампе происходит в условиях, отличающихся от стандартных , энергии Гиббса реакций испарения следует рассчитывать по обобщенному уравнению Вант-Гоффа:
, (6)
где по [2] - приведенное давление наполняющей парогазовой среды в лампе.
Отсюда: .
(7)
Таким образом, для расчета давления газообразного , испаряющегося из эмиттера в процессе работы ИС, следует определить стандартные энтальпии и энтропии реакций испарения (1) - (4). Их рассчитывали по методике [3], согласно которой уравнение реакции испарения получали, вычитая из уравнения возгонки
уравнение твердофазной реакции образования
из соответствующих простых оксидов:
|
|
|
|
|
|
|
|
|
В этом случае стандартная энергия Гиббса реакции испарения равна:
(8)
По данным [4] оценили величину . Отсутствующие в литературе стандартные термодинамические параметры твердофазных реакций образования
из простых оксидов, оценивали методом подобия соединений и реакций [5], полагая соединения
и твердофазные реакции их образования из простых оксидов, соответственно подобными соединениям
и
и реакциям образования этих соединений из
и
. В [3] величины
,
и
определены экспериментально при следующем условии: твердофазную реакцию образования сложного оксида из простых, протекающую в условиях, принимаемых за стандартные, рассматривали как аналог реакции образования соединения из простых элементов, считая простые оксиды «элементами», чьи энтальпия и свободная энергия образования принимаются равными нулю, а сложный оксид - «соединением», термодинамические свойства которого одновременно являются термодинамическими параметрами реакции его образования. Тогда
;
;
.
Согласно [5], для рядов подобных соединений между стандартными энтальпиями образования этих соединений существует линейная связь:
(9)
По экспериментальным данным [3], построили график прямолинейной зависимости , по которому, на основании соотношения (9), определяли величины
, используя соответствующие значения
. Точность оценки
определяется точностью справочных данных о величинах
.
Поскольку изменение энтропии в твердофазных реакциях образования сложных оксидов из простых является, в основном, функцией брутто-формулы сложного оксида [2], изменение энтропии в реакциях образования из простых оксидов считаем примерно таким же, что и в реакциях образования
и
[3].
Рассчитанные таким образом стандартные энергии Гиббса твердофазных реакций образования из соответствующих простых оксидов приведены в табл. 1.
Таблица 1
Расчетные стандартные энергии Гиббса твердофазных реакций образования из соответствующих простых оксидов
Твердофазные реакции образования из простых оксидов (10) - (13) |
кал/моль |
|
|
|
|
|
|
|
|
Примечание: считаем, что и определены при Т=900-1100 К, т.к. соответствующие стандартные параметры твердофазных реакций образования в [3] измерены при этих температурах. |
Из табл. 1 следует, что стандартные энергии Гиббса соединений близки между собой и по абсолютной величине немного меньше соответствующих
[3]:
и
.
Используя данные табл. 1 и величину по формуле (8), оценили стандартные энергии Гиббса реакций испарения (1) - (4), характеризующие устойчивость
к термической эрозии. Сделанные оценки приведены в табл. 2.
Таблица 2
Расчетные стандартные энергии Гиббса реакций испарения из
Реакции испарения (1) - (4) |
кал/моль |
|
|
|
|
|
|
|
|
Стандартные энергии Гиббса реакций испарения, приведенные в табл. 2, имеют большие положительные значения, что свидетельствует о высокой устойчивости соединений к термическому испарению. Из табл. 1 и 2 следует, что величины
обусловлены, прежде всего, большой положительной величиной
, т.е. стойкость к термической эрозии сложных оксидов
определяется, в основном, летучестью щелочноземельного (ЩЗ) оксида. Т.к. абсолютные величины стандартного химического сродства
к исследуемым редкоземельным оксидам
малы по сравнению с
и незначительно различаются между собой, влияние природы
, входящего в состав
, на стойкость сложного оксида к термическому испарению выражено значительно слабее по сравнению с влиянием щелочноземельного оксида. Аналогичный вывод был сделан нами в [6] для соединений
.
При эксплуатации в ИС, где
, как правило, ≠1, величины энергий Гиббса реакций испарения отличаются от стандартных значений, приведенных в табл. 2, и рассчитываются по формуле (7). Для оценочных расчетов принимаем, что
= 500 мм рт.ст. в ИС высокого давления (ИСв.д.) и
= 5 мм рт.ст. в ИС низкого давления (ИСн.д.). В табл. 3 приведены рассчитанные в настоящей работе константы равновесия реакций испарения
из
и, для сравнения, даны константы равновесия реакций испарения
из
[7] при различных температурах катода ИСв.д. и ИСн.д..
Таблица 3
Величины констант равновесия реакций испарения из
и
из
при различных температурах катода ИС высокого и низкого давления
Уравнение реакции испарения |
ИСв.д. |
ИСн.д. |
||||||
( P, мм рт. ст.; Т, К) |
( P, мм рт. ст.; Т, К) |
|||||||
1600 |
1700 |
1800 |
1850 |
1900 |
1600 |
1650 |
1700 |
|
|
-7,5 |
-6,4 |
-5,4 |
-5,0 |
-4,6 |
-5,5 |
-5,0 |
-4,4 |
|
-7,5 |
-6,4 |
-5,4 |
-5,0 |
-4,6 |
-5,5 |
-5,0 |
-4,4 |
|
-7,8 |
-6,7 |
-5,7 |
-5,2 |
-4,8 |
-5,8 |
-5,2 |
-4,7 |
|
-7,9 |
-6,8 |
-5,8 |
-5,4 |
-4,3 |
-5,9 |
-5,3 |
-4,8 |
|
|
|
||||||
1400 |
1500 |
1550 |
1600 |
1650 |
1300 |
1350 |
|
|
|
-7,2 |
-6,1 |
-5,6 |
-5,2 |
-4,7 |
-5,3 |
-4,7 |
|
|
-7,2 |
-6,1 |
-5,6 |
-5,2 |
-4,7 |
-5,3 |
-4,7 |
|
|
- |
- |
- |
- |
- |
- |
- |
|
|
-7,7 |
-6,6 |
-6,1 |
-5,7 |
-5,2 |
-5,9 |
-5,3 |
|
Из табл. 3 следует, что:
1) стойкость к термическому испарению соединений при эксплуатации в ИС гораздо выше стойкости соответствующих соединений
, что позволяет использовать термоэмиттеры
при более высоких температурах катодов (1600-1850 К в ИСв.д. и до 1650 К в ИСн.д.);
2) природа щелочноземельного оксида ( ), а не
, как предполагалось, оказывает решающее влияние на стойкость
к термической эрозии в процессе эксплуатации этих соединений в ИС. Факт, установленный в настоящей работе расчетным путем, экспериментально подтверждается в [8], где показано, что количество
, выделившегося из тройного оксида
при рабочей температуре катодов ламп ЛБ-40, примерно в 1000 раз превышает количества испарившихся из него
и
.
3) при эксплуатации в ИС термическая эрозия катодных покрытий в большой степени зависит от давления наполняющей парогазовой среды в лампе, и протекает тем интенсивнее, чем это давление ниже, поэтому эмиттеры
предпочтительнее использовать в ИС высокого давления;
4) влияние природы , входящего в состав
, на стойкость сложных оксидов к термическому испарению выражено значительно слабее влияния
.
Вывод: установлено, что стойкость к термическому испарению эмиттеров (
) велика и это позволяет использовать их в ИСв.д. с рабочей температурой катода до 1850 К.
Рецензенты:
-
Федоренко Анатолий Степанович, д.т.н., профессор, заведующий кафедрой источников света Мордовского государственного университета имени Н.П. Огарева, г.Саранск.
-
Коваленко Ольга Юрьевна, д.т.н., профессор, заведующая кафедрой метрологии, стандартизации и сертификации Мордовского государственного университета имени Н.П. Огарева, г.Саранск.
Библиографическая ссылка
Зорина Т.М., Корочков Ю.А., Сафроненков С.А. ОЦЕНКА СТАБИЛЬНОСТИ ЭМИССИОННЫХ ПОКРЫТИЙ НА ОСНОВЕ SRLN2O4 (LN – DY, Y, YB, SC) В УСЛОВИЯХ РАБОТЫ КАТОДОВ ИСТОЧНИКОВ СВЕТА // Современные проблемы науки и образования. 2012. № 4. ;URL: https://science-education.ru/ru/article/view?id=6627 (дата обращения: 09.05.2025).