<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:noNamespaceSchemaLocation="JATS-archive-oasis-article1-4.xsd" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="ru">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-title-group>
        <journal-title>Журнал Современные проблемы науки и образования</journal-title>
      </journal-title-group>
      <issn>2070-7428</issn>
      <publisher>
        <publisher-name>Общество с ограниченной ответственностью &amp;quot;Издательский Дом &amp;quot;Академия Естествознания&amp;quot;</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>
      <article-id pub-id-type="publisher-id">ART-9693</article-id>
      <title-group>
        <article-title>ОЦЕНКА АДЕКВАТНОСТИ МОДЕЛИ ДЛЯ РАСЧЕТА ТЕМПЕРАТУРНОГО ПОЛЯ ПЛАТ МИКРОБЛОКОВ ЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ</article-title>
      </title-group>
      <contrib-group>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Меркухин</surname>
              <given-names>Е.Н.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Merkukhin</surname>
              <given-names>E.N.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>merkuhin@mail.ru</email>
          <xref ref-type="aff" rid="aff08909ab8"/>
        </contrib>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Омаров</surname>
              <given-names>О.М.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Omarov</surname>
              <given-names>O.M.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>merkuhin@mail.ru</email>
          <xref ref-type="aff" rid="aff08909ab8"/>
        </contrib>
      </contrib-group>
      <aff id="aff08909ab8">
        <institution xml:lang="ru">ФГБОУ ВПО «Дагестанский государственный технический университет» Министерства образования и науки РФ, Махачкала</institution>
        <institution xml:lang="en">Dagestan State Technical University" of the Ministry of Education and Science of the Russian Federation, Makhachkala</institution>
      </aff>
      <pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2013-04-23">
        <day>23</day>
        <month>04</month>
        <year>2013</year>
      </pub-date>
      <issue>4</issue>
      <fpage>30</fpage>
      <lpage>30</lpage>
      <permissions>
        <license xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/">
          <license-p>This is an open-access article distributed under the terms of the CC BY 4.0 license.</license-p>
        </license>
      </permissions>
      <self-uri content-type="url" hreflang="ru">https://science-education.ru/ru/article/view?id=9693</self-uri>
      <abstract xml:lang="ru" lang-variant="original" lang-source="author">
        <p>В статье предлагается модель для расчета температурного поля плат микроблоков электронной аппаратуры и оценка ее адекватности. Модель построена на основе обоснованных допущений и является иерархической. Сначала определяется температура корпуса с использованием известных инженерных методов расчета, а затем рассчитывается температурное поле каждой платы численным методом верхних релаксаций. Предложенная вычислительная формула позволяет проводить расчеты для областей с неоднородными теплофизическими характеристиками. Далее используется электротепловая аналогия для вычисления температуры  каждого электронного элемента. Для оценки адекватности модели проведены вычислительные и физические эксперименты. При проведении вычислительных экспериментов исследуется реакция модели на изменение входных данных: координат источника тепла на плате, толщины теплопроводного сердечника платы и диэлектрического покрытия, коэффициентов теплопроводности материалов платы, мощности, рассеиваемой источником тепла, толщины теплопроводной пасты между источником тепла и поверхностью диэлектрического покрытия сердечника платы. По реакции модели сделано заключение об ее адекватности и возможности использования для теплофизических расчетов микроблоков электронной аппаратуры.</p>
      </abstract>
      <abstract xml:lang="en" lang-variant="translation" lang-source="translator">
        <p>In article the model for calculation of a temperature field of payments of microblocks of the electronic equipment and an assessment of its adequacy is offered. The model is constructed on the basis of reasonable assumptions and is hierarchical. At first case temperature decides on use of known engineering methods of calculation, and then the temperature field of each payment a numerical method of the top relaxations pays off. The offered computing formula allows to carry out calculations for areas with non-uniform teplofizichesky characteristics. Further the electrothermal analogy for calculation of temperature of each electronic element is used. For an assessment of adequacy of model computing and physical experiments are made. When carrying out computing experiments reaction of model to change of entrance data is investigated: coordinates of a source of heat on a payment, thickness of the heat-conducting core of a payment and a dielectric covering, coefficients of heat conductivity of materials of a payment, the power disseminated by a source of heat, thickness of heat-conducting paste between a source of heat and a surface of a dielectric covering of the core of a payment. On reaction of model the conclusion about its adequacy and possibility of use for heatphysical calculations of microblocks of the electronic equipment is made.</p>
      </abstract>
      <kwd-group xml:lang="ru">
        <kwd>микроблок</kwd>
        <kwd>модель</kwd>
        <kwd>тепловой режим</kwd>
        <kwd>численный метод верхних релаксаций</kwd>
        <kwd>электротепловая аналогия</kwd>
        <kwd>температурное поле платы.</kwd>
      </kwd-group>
      <kwd-group xml:lang="en">
        <kwd>microblock</kwd>
        <kwd>model</kwd>
        <kwd>thermal mode</kwd>
        <kwd>numerical method of the top relaxations</kwd>
        <kwd>elektrotep-lovy analogy</kwd>
        <kwd>temperature field of a payment.</kwd>
      </kwd-group>
    </article-meta>
  </front>
  <back>
    <ref-list>
      <ref>
        <note>
          <p>1. Дульнев Г.Н.&amp;nbsp; Тепло- и массообмен в радиоэлектронной аппаратуре. - М. : Высш. шк., 1984.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>2. Дульнев Г.Н., Тарновский Н.Н. Тепловые режимы электронной аппаратуры. &amp;ndash; Л. : Энергия, 1971.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>3. Меркухин Е.Н. Метод расчета теплового режима плат микроблоков электронной аппаратуры // Вестник Дагестанского государственного технического университета. Технические науки. - 2011. - № 21. - С. 32-36.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>4. Меркухин Е.Н. Модель для теплового расчета микроблоков электронной аппаратуры // Обеспечение тепловых режимов и надежность радиоэлектронных систем : сб. науч. трудов. &amp;ndash; Махачкала : ДГТУ, 2006. &amp;ndash; С.79-83.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>5. Методы решения сеточных уравнений / А.А.&amp;nbsp; Самарский,&amp;nbsp; В.С. Николаев. - М. : Наука, 1978.</p>
        </note>
      </ref>
    </ref-list>
  </back>
</article>
