В статье рассматривается решение задачи создания единой информационной модели интегрированной автоматизированной системы предприятия, предназначенной для управления наборами данных на ста-диях жизненного цикла наукоемкого изделия. Предложено формализованное описание единой инфор-мационной модели в виде композиции структурных элементов, их параметров, связей, расположения и временного распределения ожидаемых состояний системы, соответствующих условиям реализации ста-дий жизненного цикла изделий. Отношения между структурными элементами в модели предлагается устанавливать в виде иерархических (древовидных) представлений. Это позволяет одновременно отра-жать как структурные, так и параметрические отношения при объединении структурных элементов с формированием системных связей, что исключает необходимость аналитического описания уравнений связей. В статье показана практическая апробация предлагаемой единой информационной модели в интегрированной системе Stalker PLM на примере создания и управления наборами данных электронной структуры наукоемкого изделия.

The article deals with the task of creating a unified information model integrate the automated enterprise system for managing sets of data on the life cycle of high-tech products. Proposed formal description of a uniform information model as the composition of the structural elements, their parameters, connections, and the arrangement of the temporal distribution of the expected state of the system, corresponding to the conditions of the stages in the lifecycle of products. The relationship between the structural elements in the model is proposed to establish a hierarchical (tree) view. This allows you to simultaneously reflect both structural and parametric relationships by combining the structural elements of the formation of systemic connections, eliminating the need for an analytical description of the constraint equations. The article shows the practical testing of the proposed unified information model for an integrated system Stalker PLM through the creation and management of data sets of the electronic structure of high-tech products.