Метрологические характеристики автономных средств измерений, предназначенных для хранения, воспроизведения и передачи размера единиц величин, изменяются в процессе эксплуатации. В дальнейшем будем говорить об эволюции основной погрешности, подразумевая, что вместо нее может быть аналогичным образом рассмотрена любая другая метрологическая характеристика. Эволюция метрологических характеристик средств измерений во времени обусловлена процессами старения в его узлах и элементах, вызванными взаимодействием с внешней окружающей средой. Эти процессы протекают в основном на молекулярном уровне и не зависят от того, находится ли средство измерения в эксплуатации или хранится на консервации. При эволюции метрологических характеристик средств измерений существенным является знание состояния процесса эволюции метрологических характеристик в настоящий момент времени. Применение диффузионных марковских процессов в данном случае обусловлено их свойствами, основное из которых – это отсутствие последействия. Поведение диффузионного марковского процесса полностью описывается его локальными характеристиками, то есть коэффициентом сноса и коэффициентом диффузии. Модель эволюции метрологических характеристик, использующая диффузионные марковские процессы, наиболее адекватна исследуемому процессу и универсальна по сравнению с другими, используемыми в теории случайных функций.

Autonomous metrological characteristics of measuring instruments intended for storage, reproduction and transmission size of the measurement units are changed in the process of operation. In the future we will talk about the evolution of the basic error, meaning that instead of it can be similarly considered any other metrological characteristics. The evolution of the metrological characteristics of measuring instruments in time due to the aging process in its nodes and elements due to the interaction with the external environment. These processes occur mainly at the molecular level and do not depend on whether the measurement tool in use or is stored for preservation. When the evolution of the metrological characteristics of measuring instruments is essential knowledge of the process of evolution of the metrological characteristics in real time. The use of diffusion Markov processes in this case due to their properties, the main of which is the lack of follow – through. The behavior of the diffusion Markov process is completely described by its local characteristics, i.e., the ratio of drift and diffusion coefficient. Model the evolution of the metrological characteristics using diffusion Markov processes that are most adequate to the investigated process and universal compared with other commonly used in the theory of random functions.