<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:noNamespaceSchemaLocation="JATS-archive-oasis-article1-4.xsd" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="ru">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-title-group>
        <journal-title>Журнал Современные проблемы науки и образования</journal-title>
      </journal-title-group>
      <issn>2070-7428</issn>
      <publisher>
        <publisher-name>Общество с ограниченной ответственностью &amp;quot;Издательский Дом &amp;quot;Академия Естествознания&amp;quot;</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>
      <article-id pub-id-type="publisher-id">ART-14950</article-id>
      <title-group>
        <article-title>ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ДИОКСИДА ВАНАДИЯ И ПЕРСПЕКТИВЫ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ СЭНДВИЧ СТРУКТУР НА ОСНОВЕ VO2 В СЕНСОРНОЙ ТЕХНИКЕ</article-title>
      </title-group>
      <contrib-group>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Пергамент</surname>
              <given-names>А.Л.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Pergament</surname>
              <given-names>A.L.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>aperg@petrsu.ru</email>
          <xref ref-type="aff" rid="affc97a0ef3"/>
        </contrib>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Кулдин</surname>
              <given-names>Н.А.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Kuldin</surname>
              <given-names>N.A.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>kuldin@petrsu.ru</email>
          <xref ref-type="aff" rid="affc97a0ef3"/>
        </contrib>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Стефанович</surname>
              <given-names>Г.Б.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Stefanovich</surname>
              <given-names>G.B.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>gstef@petrsu.ru</email>
          <xref ref-type="aff" rid="affc97a0ef3"/>
        </contrib>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Величко</surname>
              <given-names>А.А.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Velichko</surname>
              <given-names>A.A.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>velichko@petrsu.ru</email>
          <xref ref-type="aff" rid="affc97a0ef3"/>
        </contrib>
      </contrib-group>
      <aff id="affc97a0ef3">
        <institution xml:lang="ru">ФГБОУ ВПО «Петрозаводский государственный университет»</institution>
        <institution xml:lang="en">Petrozavodsk State University</institution>
      </aff>
      <pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2014-05-17">
        <day>17</day>
        <month>05</month>
        <year>2014</year>
      </pub-date>
      <issue>5</issue>
      <fpage>790</fpage>
      <lpage>790</lpage>
      <permissions>
        <license xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/">
          <license-p>This is an open-access article distributed under the terms of the CC BY 4.0 license.</license-p>
        </license>
      </permissions>
      <self-uri content-type="url" hreflang="ru">https://science-education.ru/ru/article/view?id=14950</self-uri>
      <abstract xml:lang="ru" lang-variant="original" lang-source="author">
        <p>Показана возможность использования в сенсорной технике переключательных элементов с S-образной ВАХ на основе тонких пленок VO2. Представлены результаты исследования температурных и частотных зависимостей величины диэлектрической проницаемости диоксида ванадия, полученного методом анодного оксидирования. По данным измерений среднее значение диэлектрической проницаемости при комнатной температуре на частоте 1 kHz составляет &amp;#603; = 220±20. В диапазоне частот 10 Hz – 100 kHz диэлектрическая проницаемость изменяется в пределах от 250–300 до ~100.  Полученные значения хорошо коррелируют с литературными данными для монокристаллов VO2. С понижением температуры &amp;#603; уменьшается, что необходимо учитывать при разработке датчиков температуры на основе исследуемых структур, внося соответствующие коррективы в формулу для частоты релаксационных колебаний,  где емкость формально предполагается постоянной величиной, не зависящей от температуры.</p>
      </abstract>
      <abstract xml:lang="en" lang-variant="translation" lang-source="translator">
        <p>The possibility of using of switching elements with S-shaped I-V characteristics based on VO2 thin films in sensor materiel is shown. The results of study of the temperature and frequency dependences of dielectric constant values of vanadium dioxide produced by anodic oxidation are presented. According to the measurements, the mean value of the dielectric constant at room temperature and at f = 1 kHz is &amp;#603; = 220±20. In the frequency range of 10 Hz to 100 kHz, the permittivity varies from 250–300 to about 100. The values obtained are in good agreement with the literature data for VO2 single crystals. As the temperature decreases, the value &amp;#603; decreases too which should be taken into account when developing the temperature sensors on the basis of the structures under study, introducing appropriate adjustments into the formula for the frequency of the relaxation oscillations, where the capacity is formally assumed to be constant, independent of temperature.</p>
      </abstract>
      <kwd-group xml:lang="ru">
        <kwd>оксиды переходных металлов</kwd>
        <kwd>оксиды ванадия</kwd>
        <kwd>фазовый переход металл-изолятор</kwd>
        <kwd>анодное оксидирование</kwd>
      </kwd-group>
      <kwd-group xml:lang="en">
        <kwd>transition metal oxides</kwd>
        <kwd>vanadium oxides</kwd>
        <kwd>metal-insulator phase transition</kwd>
        <kwd>anodic oxidation</kwd>
      </kwd-group>
    </article-meta>
  </front>
  <back>
    <ref-list>
      <ref>
        <note>
          <p>1.	Березина О.Я., Величко А.А. и др. // Письма в ЖТФ. 2007. Т. 33. В. 13. С. 24-31.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>2.	Бугаев А. А., Захарченя Б. П., Чудновский Ф. А. Фазовый переход металл-полупроводник и его применение.  Л.: Наука, 1979. 183 с.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>3.	Гордов А. Н., Жагулло О. М., Иванова А. Г. Основы температурных измерений. М.: Энергоатомиздат, 1992. 303 с.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>4.	Пергамент А. Л., Казакова Е. Л., Артюхин Д. В.  и др. // Ученые записки ПетрГУ. 2009. № 7(101). C. 101-105.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>5.	Пергамент А.Л., Стефанович Г.Б., Чудновский Ф.А. // Письма в ЖТФ. 1993. Т. 19. В. 20. С. 69-73.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>6.	Byrne R., Benito-Lopez F., Diamond D. // Materials Today. 2010 V. 13 N 7-8. P. 16-23.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>7.	Kai Liu, Chun Cheng et al. // Nano Lett. 2012. V. 12. P. 6302-6308.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>8.	Mansingh A., Singh R., Sayer M. // Phys. Status Solidi (a) 1978. V. 49. P. 773-779.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>9.	Pergament A., Boriskov P., Velichko A., Kuldin N. // Journal of Physics and Chemistry of Solids. 2010. V. 71. P. 874-879.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>10.	Zheng Yang, Changhyun Ko et al // Phys. Rev. 2010. B. 82. P. 205101.</p>
        </note>
      </ref>
    </ref-list>
  </back>
</article>
