<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:noNamespaceSchemaLocation="JATS-archive-oasis-article1-4.xsd" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="ru">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-title-group>
        <journal-title>Журнал Современные проблемы науки и образования</journal-title>
      </journal-title-group>
      <issn>2070-7428</issn>
      <publisher>
        <publisher-name>Общество с ограниченной ответственностью &amp;quot;Издательский Дом &amp;quot;Академия Естествознания&amp;quot;</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>
      <article-id pub-id-type="publisher-id">ART-12450</article-id>
      <title-group>
        <article-title>О ВЛИЯНИИ ФРАГМЕНТАЦИИ КОНТАКТНЫХ ПЯТЕН НА СОПРОТИВЛЕНИЕ СИЛЬНОТОЧНЫХ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ КОНТАКТОВ</article-title>
      </title-group>
      <contrib-group>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Павлейно</surname>
              <given-names>О.М.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Pavleyno</surname>
              <given-names>O.M.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>pavleyno@mail.ru</email>
          <xref ref-type="aff" rid="aff70f095d4"/>
        </contrib>
      </contrib-group>
      <aff id="aff70f095d4">
        <institution xml:lang="ru">Санкт-Петербургский государственный университет, НОЦ «Электрофизика»</institution>
        <institution xml:lang="en">St. Petersburg State University, Electrophysics Scientific and Educational Center</institution>
      </aff>
      <pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2014-02-21">
        <day>21</day>
        <month>02</month>
        <year>2014</year>
      </pub-date>
      <issue>2</issue>
      <fpage>665</fpage>
      <lpage>665</lpage>
      <permissions>
        <license xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/">
          <license-p>This is an open-access article distributed under the terms of the CC BY 4.0 license.</license-p>
        </license>
      </permissions>
      <self-uri content-type="url" hreflang="ru">https://science-education.ru/ru/article/view?id=12450</self-uri>
      <abstract xml:lang="ru" lang-variant="original" lang-source="author">
        <p>В работе на основе решения ряда численных задач, проведенного в программном комплексе ANSYS, выполнена оценка влияния структуры проводящей поверхности сильноточных электрических контак-тов на их характеристики. В частности, проанализировано влияние неоднородностей, вызванных волни-стостью, на распределение потенциала в контактной области и, как следствие, на величину контактного сопротивления. Проведено разделение области стягивания тока к контактным пятнам на ближнюю и дальнюю зоны по степени влияния фрагментации на указанные распределения, определены границы этих областей. Показано, при каких параметрах неоднородностей можно проводить расчет контактного сопротивления в приближении нефрагментированных контактных пятен без существенной потери точ-ности. Это позволяет  упростить процедуру численного моделирования, так как учет фрагментации кон-тактных пятен всегда приводит к значительному усложнению расчетных моделей и увеличению ресур-соемкости решаемых задач.</p>
      </abstract>
      <abstract xml:lang="en" lang-variant="translation" lang-source="translator">
        <p>The work uses the solutions of several numerical problems with the help of ANSYS software to estimate the effect of the conducting surface structure of high-current electric contacts upon their performance. In particular, it analyzes the effect of imhomogeneities, caused by undulation, upon the distribution of potential in the contact area and, hence, the magnitude of contact resistance. The region of the current constriction to contact spots is separated into the near and far zones as to the degree of the fragmentation effect upon the said distributions, and the zones boundaries are found. It is shown what imhomogeneities parameters allow calculating the contact resistance in the unfragmented contact spot approximation without a significant loss of accuracy. This enables reducing the numerical simulation procedure, since consideration of contact spot fragmentation always results in an essential complexity of the calculation models and the growing resource intensity of the problems being solved.</p>
      </abstract>
      <kwd-group xml:lang="ru">
        <kwd>электрический контакт</kwd>
        <kwd>контактное сопротивление</kwd>
        <kwd>контактное пятно</kwd>
        <kwd>фрагментация.</kwd>
      </kwd-group>
      <kwd-group xml:lang="en">
        <kwd>electric contact</kwd>
        <kwd>contact resistance</kwd>
        <kwd>contact spot</kwd>
        <kwd>fragmentation</kwd>
      </kwd-group>
    </article-meta>
  </front>
  <back>
    <ref-list>
      <ref>
        <note>
          <p>1. Мышкин Н.К., Кончиц В.В., Браунович М. Электрические контакты. – М. : Интеллект, 2008. – 560 с.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>2. Хольм Р. Электрические контакты. – М. : Изд. иностр. лит., 1961. – 464 с.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>3. Chaly A., Dmitriev V., Pavleyno M., Pavleyno O. Experimental research and computer simulation process of pulse heating high current contacts of vacuum interrupters // International Symposium on Discharges and Electrical Insulation in Vacuum 2010. – Braunschweig, Germany, 2010. – Vol. 2, pp. 418-423.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>4. Chalyi A.M., Dmitriev V.A., Pavleino M.A., Pavleino O.M. Heating of high current electric contacts under short-circuit shock current // ISSN 1068-3755, Surface Engineering and Applied Electrochemistry, 2013. – Vol. 49, No. 5, pp. 433–439.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>5. O.M. Pavleino, V.A. Pavlov, M.A. Pavleino. Verification of the Boundaries of the Applicability of the Holm Approximation for the Calculation of the Resistance of Electric Contacts // ISSN 1068-3755, Surface Engineering and Applied Electrochemistry, 2010. – Vol. 46, No. 5, pp. 440-446.</p>
        </note>
      </ref>
    </ref-list>
  </back>
</article>
